为了达到满意的合格率，LED高温老化，几乎所有产品都通过在工厂老化的老化房去。如何制造商不带老化时间切提高效率？介绍了一种在老化过程中进行功能测试的新方法，以降低和缩短老化过程的成本和时间问题。

   在半导体工业中，人们对老化房的老化问题进行了各种各样的争论。和其他产品一样，半导体可以在任何时候出现，原因多种多样。

   失败通过老化是使半导体劳累出现该缺陷在短时间内，以避免在使用初期发生了故障。如果不是由于器件和制造工艺的复杂性，许多半导体产品在使用过程中会产生许多问题。

在启动后的几个小时到几天内出现的缺陷(取决于制造过程的成熟度和设备的总体结构)称为早期故障。

   时效装置之后基本上消除由此时100％的失败的要求。精确地确定的老化时间的唯一方法是先前收集的参考老化失效与失效分析统计，而大多数厂家都希望减少或消除老化房中产品老化过程必须保证工厂的产品，用户的满足可靠性要求，此外，它还必须为修改提供工程数据。进器件的性能。

   一般来说，LED老化过程通过工作环。的半导体装置的环境和电气性能进执行严格的测试以使故障尽早发生，典型的半导体寿命曲线显示在右边。从图表中可以看出，主要断裂存在于设备的生命周期开始最后的第十阶段。老化房正在增加这种快速装置在使用前已经运行了10%的部件过程，迫使过早失效在较短的时间内。

   现在，通常需要几个小时而不是几个月或几年。不是所有的半导体生产厂商对所有器的部分都需要老化。LED高温老化普通器件为了更好地了解生产过程，可以事先通过统计学方法得出的预期值，失败掌握。如果比预期的高失败率的实际值，我们需要老化房，提高实际可靠性，满足用户要求。

   老化房用途：广泛应用于电能表、电子产品、轮胎橡胶、电脑主机板、终端、工业控制器、电源、电子开关等产品。为了便于产品的老化测试，特别是对于老化产品的放置，电气化老化使用，根据不同的产品属于非标准定制。